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X射線金屬鍍層測厚儀 價格
MicronX射線金屬鍍層測厚儀是一種專門應用于半導體材料、電子器件、微電子學、光通訊和數據儲存工業中的金屬薄膜厚度測量。測量更小、更快、更薄MicronX 比現有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速。這是由包括準直器、探測器、信息處理器和計算機等部件在內的一整套系統完成的。
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XRF-2000維修
我司是韓國Micro Pioneer XRF-2000 X射線鍍層測厚儀中國區一級專業資深代理商,集銷售、保養、校正(調試)及維修等專業服務一體化;長期提供XRF-2000測厚儀*零配件。
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